Reaction paths of phosphine dissociation on silicon (001)
- Creator: Warschkow, O. , Curson, N. J. , Schofield, S. R. , Marks, N. A. , Wilson, H. F. , Radny, M. W. , Smith, P. V. , Reusch, T. C. G. , McKenzie, D. R. , Simmons, M. Y.
- Resource Type: journal article
- Date: 2016
Single P and As dopants in the Si(001) surface
- Creator: Radny, M. W. , Smith, P. V. , Reusch, T. C. G. , Warschkow, O. , Marks, N. A. , Shi, H. Q. , McKenzie, D. R. , Schofield, S. R. , Curson, N. J. , Simmons, M. Y.
- Resource Type: journal article
- Date: 2007
Importance of charging in atomic resolution scanning tunneling microscopy: study of a single phosphorus atom in a Si(001) surface
- Creator: Radny, M. W. , Smith, P. V. , Reusch, T. C. G. , Warschkow, O. , Marks, N. A. , Wilson, H. F. , Curson, N. J. , Schofield, S. R. , McKenzie, D. R. , Simmons, M. Y.
- Resource Type: journal article
- Date: 2006
Scanning probe microscopy for silicon device fabrication
- Creator: Simmons, M. Y. , Ruess, F. J. , Reusch, T. C. G. , Goh, K. E. J. , Hallam, T. , Schofield, S. R. , Oberbeck, L. , Curson, N. J. , Hamilton, A. R. , Butcher, M. J. , Clark, R. G.
- Resource Type: journal article
- Date: 2005